Mein Konto
Login Anmeldung
Alles
Warenkorb
Neuesten Trends
Belletristik
Sachbücher
Kinderbücher
Seltene Bücher
Musik
DVD & Blu-Ray
Kategorie
Wunschlisten
Warenkorb
Alles
Kostenloser Versand
Trustpilot
Unsere Operationen sind klimaneutral

Growth and Characterisation of Semiconductors R.A Stradling

Growth and Characterisation of Semiconductors von R.A Stradling

Growth and Characterisation of Semiconductors R.A Stradling

11.00
Zustand - Sehr Gut
Nur noch 2
Sehr Gut

Zusammenfassung

A collection of papers from the course on the growth and characterization of semiconductors, offered by Imperial College. The volume aims to cover all the key areas in both fields, although the x-ray and Raman techniques for characterization have not been included.

Growth and Characterisation of Semiconductors Zusammenfassung

Growth and Characterisation of Semiconductors R.A Stradling

This book explains and evaluates methods used to grow and characterise low-dimensional semiconductor structures. It is based on course material developed in association with the London University Interdisciplinary Research Centre for Semiconductor Materials. It is written for graduates in physics, materials science and electrical engineering working in the research and development of semiconductors.

Inhaltsverzeichnis

The basics of epitaxy (D W Pashley). Metal organic chemical vapour deposition (MOCVD) for the preparation of semiconductor materials and devices (J O Williams). Growth of thin films and heterostructures of III-V compounds by molecular beam epitaxy (C T Foxon and B A Joyce). Scanning electron microscopy (SEM) microcharacterisation of semiconducting materials and devices (D B Holt). Depth profiling of semiconductor materials by secondary ion mass spectrometry (J B Clegg). Localised vibrational mode spectroscopy of impurities in semiconductor crystals (R C Newman). Point defect studies using electron paramagnetic resonance (R C Newman). Photoluminescence characterisation (E C Lightowlers). Hall, magnetoresistance and infrared conductivity measurements (R A Stradling). Characterisation of semiconductors by capacitance methods (D W Palmer). High resolution electron microscopy of semiconductors (J L Hutchison).

Zusätzliche Informationen

GOR008693308
9780852741313
0852741316
Growth and Characterisation of Semiconductors R.A Stradling
R.A Stradling
Gebraucht - Sehr Gut
Broschiert
Taylor & Francis Ltd
19900101
252
N/A
Die Abbildung des Buches dient nur Illustrationszwecken, die tatsächliche Bindung, das Cover und die Auflage können sich davon unterscheiden.
Dies ist ein gebrauchtes Buch. Es wurde schon einmal gelesen und weist von der früheren Nutzung Gebrauchsspuren auf. Wir gehen davon aus, dass es im Großen und Ganzen in einem sehr guten Zustand ist. Sollten Sie jedoch nicht vollständig zufrieden sein, setzen Sie sich bitte mit uns in Verbindung.